一种量产测试方法、系统和存储介质

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114850080 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210468487.0 (22)申请日 2022.04.29 (71)申请人 上海艾为电子技术股份有限公司 地址 201199 上海市闵行区秀文路908弄2 号1201室 (72)发明人 汪秀全　袁鹏　 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 专利代理师 陈颖 (51)Int.Cl. B07C 5/344 (2006.01) B07C 5/36 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 一种量产测试方法、系统和存储介质 (57)摘要 本申请公开了一种量产测试方法、系统和存 储介质，以实现在量产测试时做到测试数据质量 高、良率损失低且测试时间短三者兼顾。该方法 包括：获取同一型号不同批次的芯片的实测参 数；基于所述实测参数，分别对各批次进行失效 率和良率的联合卡控；对经所述联合卡控筛选出 的问题批次进行部件平均测试；根据联合卡控结 果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果。 A 0 8 0 0 5 8 4 1 1 N C CN 114850080 A 权　利　要　求　书 1/2页 1.一种量产测试方法，其特征在于，包括： 获取同一型号不同批次的芯片的实测参数；