一种磁阻式随机存取存储器的总剂量效应评估方法及系统

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115116536 A (43)申请公布日 2022.09.27 (21)申请号 202210604542.4 G11C 29/52 (2006.01) (22)申请日 2022.05.30 (71)申请人 北京时代民芯科技有限公司 地址 100076 北京市丰台区东高地四营门 北路2号 申请人 北京微电子技术研究所 (72)发明人 于春青　李同德　陈雷　王亮　 郑宏超　岳素格　苑靖爽　王亚坤　 郭威　 (74)专利代理机构 中国航天科技专利中心 11009 专利代理师 范晓毅 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) G11C 29/50 (2006.01) 权利要求书3页 说明书8页 附图2页 (54)发明名称 一种磁阻式随机存取存储器的总剂量效应 评估方法及系统 (57)摘要 本发明公开了一种磁阻式随机存取存储器 的总剂量效应评估方法及系统，本发明测试模式 包括静态测试、动态读测试、动态写测试和不加 电对比测试；通过分析不同测试模式下磁阻式随 机存取存储器的总剂量辐射特性，能够有效评估 总剂量效应。本发明评估方法对掌握磁阻式随机 存取存储器总剂量辐射效应致错机理有重要意 义，为磁阻式随机存取存储器总剂量辐射效应评 估方案的制定提供重要支撑。 A 6 3 5