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用于减小存储器装置开销的电压校准扫描

2023-06-30 07:02:11 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202210223101.X
  • 公开(公告)日:2023-05-30
  • 公开(公告)号:CN115083454A
  • 申请人:美光科技公司
摘要:本公开涉及用于减小存储器装置开销的电压校准扫描。起始电压校准扫描。接收基于与指定为当前仓的块的第一仓相关联的读取电压偏移集合而针对存储器装置的样本块测量的数据状态度量的第一值。所述第一值指定为最小值。基于与具有高于所述当前仓的索引值的块的第二仓相关联的读取电压偏移集合而测量所述样本块的数据状态度量的第二值。响应于确定所述第二值超过所述第一值,将所述第一仓维持为所述当前仓并且停止所述电压校准扫描。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115083454 A (43)申请公布日 2022.09.20 (21)申请号 202210223101.X (51)Int.Cl. G11C 5/14 (2006.01) (22)申请日 2022.03.09 (30)优先权数据 17/198,755 2021.03.11 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 K ·K ·姆奇尔拉 M ·N ·凯纳克  S ·帕塔萨拉蒂 罗贤钢 P ·费利  D ·M ·巴图蒂斯 吴建刚  S ·K ·瑞特南 S ·诺埃尔  K ·D ·舒  (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 专利代理师 王龙 权利要求书2页 说明书13页 附图7页 (54)发明名称 用于减小存储器装置开销的电压校准扫描 (57)摘要 本公开涉及用于减小存储器装置开销的电 压校准扫描。起始电压校准扫描。接收基于与指 定为当前仓的块的第一仓相关联的读取电压偏 移集合而针对存储器装置的样本块测量的数据 状态度量的第一值。所述第一值指定为最小值。 基于与具有高于所述当前仓的索引值的块的第 二仓相关联的读取电压偏移集合而测量所述样 本块的数据状态度量

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