内存测试装置以及测试电压调整方法

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112382328 A (43)申请公布日 2021.02.19 (21)申请号 202011230109.6 (22)申请日 2020.11.06 (71)申请人 润昇系统测试(深圳)有限公司 地址 518101 广东省深圳市宝安区福海街 道桥头社区红牌工业园华丰智谷福海 科技产业园B栋B116 (72)发明人 周少东　陈世兴　颜振亮　姜文贵　 (74)专利代理机构 广州华进联合专利商标代理 有限公司 44224 代理人 何冲 (51)Int.Cl. G11C 29/02 (2006.01) G11C 29/50 (2006.01) 权利要求书3页 说明书7页 附图4页 (54)发明名称 内存测试装置以及测试电压调整方法 (57)摘要 本发明提供一种内存测试装置以及测试电 压调整方法。内存测试装置用以对至少一待测内 存模块进行测试。所述内存测试装置包括主机、 至少一测试板以及至少一检测器。主机提供测试 流程；所述至少一测试板基于测试流程分别对所 述至少一待测内存模块中的对应待测内存模块 进行测试；各所述至少一检测器接收自所述至少 一测试板中的对应测试板所提供的关联于测试 流程的测试电压，依据所述测试电压的偏移产生 电压偏移信息；主机依据电压偏移信息调整测试 流程，使对应测试板依据经调整的测试流程调整 测试电压。 A 8 2 3 2 8 3 2 1 1 N