PCT发明

存储器子系统中的电荷损失跟踪

2022-10-24 10:22:16 发布于四川 71
  • 申请专利号:CN202080051414.0
  • 公开(公告)日:2026-06-19
  • 公开(公告)号:CN115004303A
  • 申请人:美光科技公司
摘要:公开一种系统,其包括存储器装置和处理装置,所述处理装置与所述存储器装置以操作方式耦合,以执行包含识别包括所述存储器装置的多个块的块族的操作。由所述处理装置执行的所述操作进一步包含使所述块族与阈值电压偏移相关联。由所述处理装置执行的所述操作进一步包含计算所述阈值电压偏移的调整值,其中所述调整值反映从触发事件以来已经过的时间周期以及携载所述多个块中的一或多个块的存储器组件的温度。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115004303 A (43)申请公布日 2022.09.02 (21)申请号 202080051414.0 G11C 29/02 (2006.01) (22)申请日 2020.12.18 (85)PCT国际申请进入国家阶段日 2022.01.14 (86)PCT国际申请的申请数据 PCT/CN2020/137603 2020.12.18 (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 沈光  (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 专利代理师 王龙 (51)Int.Cl. G11C 16/34 (2006.01) G11C 7/04 (2006.01) 权利要求书2页 说明书14页 附图9页 (54)发明名称 存储器子系统中的电荷损失跟踪 (57)摘要 公开一种系统,其包括存储器装置和处理装 置,所述处理装置与所述存储器装置以操作方式 耦合,以执行包含识别包括所述存储器装置的多 个块的块族的操作。由所述处理装置执行的所述 操作进一步包含使所述块族与阈值电压偏移相 关联。由所述处理装置执行的所述操作进一步包 含计算所述阈值电压偏移的调整值,其中所述调 整值反映从触发事件以来已经过的时间周期以 及携载所述多个块中的一或多个块的存储器组 件的温度。 A 3 0 3 4 0 0 5 1 1 N C CN 115004303

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