用于电力管理集成电路(PMIC)的偏置测试的自动上电模式

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115240754 A (43)申请公布日 2022.10.25 (21)申请号 202210423939.3 (22)申请日 2022.04.21 (30)优先权数据 17/237,875 2021.04.22 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 W ·A ·伦德沃伊　 (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 专利代理师 赵子杰 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) G11C 29/00 (2006.01) G11C 29/54 (2006.01) 权利要求书3页 说明书15页 附图5页 (54)发明名称 用于电力管理集成电路(PMIC)的偏置测试 的自动上电模式 (57)摘要 本申请涉及用于电力管理集成电路(PMIC) 的偏置测试的自动上电模式。一种系统可将存储 器系统的PMIC编程到特定模式。所述模式可使所 述PMIC在接收到电力后将偏置施加到所述存储 器系统的存储器装置，并且与将所述偏置施加到 所述存储器装置的命令无关。所述系统可在阈值 时间内控制一或多个操作条件(例如，温度、湿 度)的同时将电力传输到所述存储器系统。所述 PMIC可基于所述PMIC被编程到所述模式和所传 输电力而在所述阈值时间期间将偏置施加到所 述存储器装置。所述系统可标识由于在所述阈值 A 时间内控制所述操作条件的同时将所述电力传 4