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纳米探针的修复方法

2023-05-14 11:53:53 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202310196386.7
  • 公开(公告)日:2023-05-12
  • 公开(公告)号:CN115849299A
  • 申请人:长鑫存储技术有限公司
摘要:本公开涉及一种纳米探针的修复方法,纳米探针的修复方法包括如下步骤:将待进行修复的纳米探针的载体固定放置在支撑台上;使纳米探针的针体与聚焦离子束的发射方向平行;采用第一工艺参数的聚焦离子束对纳米探针进行修复处理,以将旧针尖去除;采用第二工艺参数的聚焦离子束对去除旧针尖后的纳米探针的针体进行修复处理,以在针体上得到针尖半成品;采用第三工艺参数的聚焦离子束对针尖半成品进行修复处理,使针尖半成品的尺寸参数符合预设要求的新针尖。上述的纳米探针的修复方法,能够对损坏的纳米探针进行修复,节省能源,以及降低了成本。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115849299 A (43)申请公布日 2023.03.28 (21)申请号 202310196386.7 (22)申请日 2023.03.03 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230601 安徽省合肥市经济技术开发 区空港工业园兴业大道388号 (72)发明人 徐高峰 陈声宇 刘明德 胡子强  董楠 陈家宝  (74)专利代理机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 专利代理师 周修文 (51)Int.Cl. B82B 3/00 (2006.01) G01R 1/067 (2006.01) B82Y 40/00 (2011.01) 权利要求书2页 说明书11页 附图14页 (54)发明名称 纳米探针的修复方法 (57)摘要 本公开涉及一种纳米探针的修复方法,纳米 探针的修复方法包括如下步骤:将待进行修复的 纳米探针的载体固定放置在支撑台上;使纳米探 针的针体与聚焦离子束的发射方向平行;采用第 一工艺参数的聚焦离子束对纳米探针进行修复 处理,以将旧针尖去除;采用第二工艺参数的聚 焦离子束对去除旧针尖后的纳米探针的针体进 行修复处理,以在针体上得到针尖半成品;采用 第三工艺参数的聚焦离子束对针尖半成品进行 修复处理,使针尖半成品的尺寸参数符合预设要 求的新针尖。上述的纳米探针的修复方法,能够 对损坏的纳米探针进行修复,节省能源,以及降 A 低了成本。 9

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