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基于CPT磁强计的磁场矢量测量方法2025

2024-06-01 07:56:28 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202410101149.2
  • 公开(公告)日:2025-04-01
  • 公开(公告)号:CN118091506A
  • 申请人:北京航空航天大学
摘要:基于CPT磁强计的磁场矢量测量方法,采用双光束方案,使用伺服电机对偏振角度进行精准调控,通过观察色散信号实现对磁场方向进行测量。作为CPT矢量磁强计的探头部分,将受调制的垂直腔面发射激光器所产生的多色光输入气室,得到携带磁场信息的光信号经过锁相放大器调制解调后获得多个色散信号,通过每个色散信号可以分析CPT信号的状态,其中色散信号的过零点与CPT峰处在同一频率,色散信号的幅值越大,可以说明CPT峰幅值越大。本发明基于磁场B与波矢k、偏振e的夹角对CPT峰幅值影响的基本原理,对磁场进行矢量测量。本发明优势在于能够测定磁场方向,并能有效避免由于特定夹角导致灵敏度下降的问题。本发明有较强的延拓适用性与较高的实用价值。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118091506 A (43)申请公布日 2024.05.28 (21)申请号 202410101149.2 (22)申请日 2024.01.24 (71)申请人 北京航空航天大学 地址 100191 北京市海淀区学院路37号 (72)发明人 杜鹏程 李心志 杨飞帆 李进  (74)专利代理机构 北京海虹嘉诚知识产权代理 有限公司 11129 专利代理师 吴小灿 (51)Int.Cl. G01R 33/032 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图2页 (54)发明名称 基于CPT磁强计的磁场矢量测量方法 (57)摘要 基于CPT磁强计的磁场矢量测量方法,采用 双光束方案,使用伺服电机对偏振角度进行精准 调控,通过观察色散信号实现对磁场方向进行测 量。作为CPT矢量磁强计的探头部分,将受调制的 垂直腔面发射激光器所产生的多色光输入气室, 得到携带磁场信息的光信号经过锁相放大器调 制解调后获得多个色散信号,通过每个色散信号 可以分析CPT信号的状态,其中色散信号的过零 点与CPT峰处在同一频率,色散信号的幅值越大, 可以说明CPT峰幅值越大。本发明基于磁场B与波 矢k、偏振e的夹角对CPT峰幅值影响的基本原理, 对磁场进行矢量测量。本发明优势在于能够测定 A 磁场方向,并能有效避免由于特定夹角导致灵敏 6 度下降的问题。本发明有较强的延拓适用性与较 0 5 1 高的实用价值。 9 0 8 1 1 N C C

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