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发明
一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统2025
2025-10-25 11:20:26
发布于四川
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- 申请专利号：CN202511316014.9
- 公开（公告）日：2025-12-23
- 公开（公告）号：CN120832492A
- 申请人：中国标准化研究院
摘要：本发明公开了一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统，涉及工业大数据技术领域，首先通过多源传感器网络和自动化检测设备采集产业链各环节的历史生产环境数据，然后利用时序特征提取算法和关联分析算法提取环节内特征和环节间关联特征，接着基于深度学习技术和图神经网络构建质量评估模型，实时监测产业链各环节的质量状态，当检测到质量异常时，通过环节关联追溯算法识别质量异常环节和环节间质量传递路径，最后根据质量异常溯源信息，通过环节协同优化算法生成质量提升方案。提高了质量异常溯源的效率。
专利内容
本发明公开了一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统，涉及工业大数据技术领域，首先通过多源传感器网络和自动化检测设备采集产业链各环节的历史生产环境数据，然后利用时序特征提取算法和关联分析算法提取环节内特征和环节间关联特征，接着基于深度学习技术和图神经网络构建质量评估模型，实时监测产业链各环节的质量状态，当检测到质量异常时，通过环节关联追溯算法识别质量异常环节和环节间质量传递路径，最后根据质量异常溯源信息，通过环节协同优化算法生成质量提升方案。提高了质量异常溯源的效率。G06F18/20(2023.01);G06F18/213(2023.01);G06F18/25(2023.01);G06N3/042(2023.01);G06N3/0464(2023.01);G06N3/08(2023.01)
