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一种存储芯片的修复方法及装置、计算机存储介质2024

2024-04-21 07:49:09 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202410087742.6
  • 公开(公告)日:2024-04-19
  • 公开(公告)号:CN117912529A
  • 申请人:普冉半导体(上海)股份有限公司
摘要:本申请公开了一种存储芯片修复的方法及装置、计算机存储介质,所述存储芯片包括存储阵列和冗余阵列,所述存储阵列包括多个存储单元,所述冗余阵列包括多个冗余单元,所述方法包括:当所述存储阵列中存在第一存储单元时,从所述冗余阵列中选取若干所述冗余单元作为修复单元;采用所述修复单元对目标单元进行替换修复;其中,所述目标单元包括第一存储单元和第二存储单元,所述第一存储单元包括失效的存储单元,所述第二存储单元包括所述存储阵列中与所述第一存储单元满足预设位置关系的其他存储单元。由此,提前对可能出现失效的芯片进行修复,能够提升产品可靠性和使用寿命。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117912529 A (43)申请公布日 2024.04.19 (21)申请号 202410087742.6 (22)申请日 2024.01.22 (71)申请人 普冉半导体(上海)股份有限公司 地址 201210 上海市浦东新区中国(上海) 自由贸易试验区申江路5005弄1号9层 整层(实际楼层8楼) (72)发明人 倪文彬  (74)专利代理机构 上海硕力知识产权代理事务 所(普通合伙) 31251 专利代理师 童素珠 (51)Int.Cl. G11C 29/00 (2006.01) G11C 5/02 (2006.01) G11C 5/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图4页 (54)发明名称 一种存储芯片的修复方法及装置、计算机存 储介质 (57)摘要 本申请公开了一种存储芯片修复的方法及 装置、计算机存储介质,所述存储芯片包括存储 阵列和冗余阵列,所述存储阵列包括多个存储单 元,所述冗余阵列包括多个冗余单元,所述方法 包括:当所述存储阵列中存在第一存储单元时, 从所述冗余阵列中选取若干所述冗余单元作为 修复单元;采用所述修复单元对目标单元进行替 换修复;其中,所述目标单元包括第一存储单元 和第二存储单元,所述第一存储单元包括失效的 存储单元,所述第二存储单元包括所述存储阵列 中与所述第一存储单元满足预设位置关系的其 A 他存储单元。由此,提前对可能

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