一种PGC-Atan解调法中相位调制深度提取与校正及非线性影响因素消除方法及系统2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117740047 A (43)申请公布日 2024.03.22 (21)申请号 202311783177.9 (22)申请日 2023.12.22 (71)申请人 中国科学院电工研究所 地址 100190 北京市海淀区中关村北二条6 号 (72)发明人 周朕蕊　邱宗甲　张国强　郭少朋　 汤贝贝　张萌　 (74)专利代理机构 北京科迪生专利代理有限责 任公司 11251 专利代理师 孔伟 (51)Int.Cl. G01D 5/353 (2006.01) 权利要求书3页 说明书6页 附图1页 (54)发明名称 一种PGC-Atan解调法中相位调制深度提取 与校正及非线性影响因素消除方法及系统 (57)摘要 本发明涉及一种PGC‑Atan解调法中相位调 制深度提取与校正及非线性影响因素消除方法 及系统。光源调制模块产生高频载波被高频载波 与待测信号调制后的干涉信号经处理变为电信 号，并分别与载波一倍频正弦信号、载波一倍频 余弦信号和载波二倍频余弦信号混乘。与载波一 倍频信号混乘后的一对信号进行反正切运算提 取载波相位延迟；与载波余弦信号混乘后的一对 信号进行椭圆拟合。结合载波相位延迟与椭圆拟 合参数提取相位调制深度，并反馈至光源调制模 块进行闭环控制。结合与载波余弦信号混乘后的 A 一对信号与椭圆拟合参数构建一对严格正交的 7 信号，再进行反正切运算并经高通滤波准确求得 4 0 0 待测信号。本发明