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微机电系统装置及其形成方法及集成芯片

2023-06-02 12:07:33 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN201911174299.1
  • 公开(公告)日:2025-06-27
  • 公开(公告)号:CN112441553A
  • 申请人:台湾积体电路制造股份有限公司
摘要:本公开的各种实施例涉及一种微机电系统(MEMS)装置及其形成方法及集成芯片。所述微机电系统装置包括第一介电结构,所述第一介电结构设置在第一半导体衬底之上,其中第一介电结构至少局部地界定空腔。第二半导体衬底设置在第一介电结构之上且包括可移动质量体,其中可移动质量体的相对的侧壁设置在空腔的相对的侧壁之间。第一压电防粘连结构设置在可移动质量体与第一介电结构之间,其中第一压电防粘连结构包括第一压电结构及设置在第一压电结构与第一介电结构之间的第一电极。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112441553 A (43)申请公布日 2021.03.05 (21)申请号 201911174299.1 (22)申请日 2019.11.26 (30)优先权数据 16/558,539 2019.09.03 US (71)申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力 行六路八号 (72)发明人 胡凡 郑创仁 陈相甫 戴文川  (74)专利代理机构 南京正联知识产权代理有限 公司 32243 代理人 顾伯兴 (51)Int.Cl. B81B 7/04(2006.01) B81C 1/00(2006.01) 权利要求书2页 说明书16页 附图14页 (54)发明名称 微机电系统装置及其形成方法及集成芯片 (57)摘要 本公开的各种实施例涉及一种微机电系统 (MEMS)装置及其形成方法及集成芯片。所述微机 电系统装置包括第一介电结构,所述第一介电结 构设置在第一半导体衬底之上,其中第一介电结 构至少局部地界定空腔。第二半导体衬底设置在 第一介电结构之上且包括可移动质量体,其中可 移动质量体的相对的侧壁设置在空腔的相对的 侧壁之间。第一压电防粘连结构设置在可移动质 量体与第一介电结构之间,其中第一压电防粘连 结构包括第一压电结构及设置在第一压电结构 与第一介电结构之间的第一电极。

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