一种晶体测试用载盘双头式微调结构
- 申请专利号:CN202223054359.6
- 公开(公告)日:2022-12-23
- 公开(公告)号:CN218122061U
- 申请人:四川汇锦升电子科技有限公司
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218122061 U (45)授权公告日 2022.12.23 (21)申请号 202223054359.6 (22)申请日 2022.11.17 (73)专利权人 四川汇锦升电子科技有限公司 地址 646100 四川省泸州市泸县经济开发 区城西工业园 (72)发明人 葛良清 (74)专利代理机构 成都百川兴盛知识产权代理 有限公司 51297 专利代理师 夏晓明 王云春 (51)Int.Cl. G01R 1/04 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) H03H 3/04 (2006.01) 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 (54)实用新型名称 一种晶体测试用载盘双头式微调结构 (57)摘要 本实用新型为石英晶体谐振器测试装置,公 开了一种晶体测试用载盘双头式微调结构,包括 测试机,所述壳体的内部设置有测试头,所述壳 体的内部固定连接有载具,且载具设置在测试头 的下方,所述载具的内部设置有放置槽,所述放 置槽的内部设置有托盘,所述托盘的底部设置有 支撑板,所述支撑板的底部设置有伸缩杆,且伸 缩杆的底部固定连接在壳体的底部。通过在壳体 内设置伸缩杆,伸缩杆的顶部设置支撑板,支撑 板设置在放置槽的中部,可以将托盘放置在支撑 板的顶部,伸缩杆收缩将托盘平稳的置于放置槽 内,通过在托盘的底部设置对位槽,支撑板的顶 U 部设置对位块,对位块和对位槽的配合,方便推 1 盘平稳的放
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