一种基于Zernike多项式的补偿温度带来像质退化的方法

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115712202 A (43)申请公布日 2023.02.24 (21)申请号 202211417999.0 (22)申请日 2022.11.14 (71)申请人 中国科学院光电技术研究所 地址 610209 四川省成都市双流350信箱 (72)发明人 吴之勍　王继红　 (74)专利代理机构 北京科迪生专利代理有限责 任公司 11251 专利代理师 邓治平 (51)Int.Cl. G02B 27/00 (2006.01) 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 (54)发明名称 一种基于Zernike多项式的补偿温度带来像 质退化的方法 (57)摘要 本发明公开了一种基于Zernike多项式的补 偿温度带来像质退化的方法，包括：理想成像系 统仿真模块，温度导致像质退化分析模块，反卷 积像质校正模块。理想成像系统仿真模块作为成 像模块进行仿真成像；温度导致像质退化分析模 块是在Zemax里面用多重组态模式分析出不同温 度下对应的Zernike多项式并做成序列表；反卷 积像质校正模块用实际温度传感器测得温度对 应已有序列表用对应Zernike多项式进行反卷积 达到校正温度带来像差变化的结果，可以达到处 理温度带来像质退化的效果，不需要额外增加调 A 焦组件，简化了系统，提高了系统可靠性，降低了 2 系统成本。 0 2 2 1 7 5 1 1 N C CN 115712202 A 权　利　要　求　书