用于TDL-TDC的神经网络测量校准系统和方法

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116243583 A (43)申请公布日 2023.06.09 (21)申请号 202111470307.4 (22)申请日 2021.12.03 (71)申请人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿 生研究所 地址 215123 江苏省苏州市工业园区若水 路398号 (72)发明人 吴东岷　许玥　张宝顺　曾中明　 (74)专利代理机构 苏州三英知识产权代理有限 公司 32412 专利代理师 仲崇明 (51)Int.Cl. G04F 10/00 (2006.01) G06N 3/0464 (2023.01) G06N 3/08 (2023.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图6页 (54)发明名称 用于TDL-TDC的神经网络测量校准系统和方 法 (57)摘要 本发明公开了一种用于TDL‑TDC的神经网络 测量校准系统和方法 ，该系统包括 ：TDL‑TDC模 块，采用码密度校准法完成对延迟链的初始校 准，获得初始校准值；温度传感模块，采集FPGA芯 片上系统运行温度，获得运行温度信息；上位机 神经网络校准模块，搭建多层学习网络，将所述 的运行温度信息和初始校准值作为网络的输入， 输出为延迟单元的延迟时间，建立温度信息与延 迟单元的延迟时间之间对应的非线性变化关系。 本发明通过学习网络找出延迟单元延迟时间数 据与温度数据之间对应的非线性变化关系，在实 A 际工作时仅需通过一次校准