一种基于微波反射实时识别和定位低阶有理面位置的方法及装置2024

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117497206 A (43)申请公布日 2024.02.02 (21)申请号 202311351463.8 (22)申请日 2023.10.18 (71)申请人 中国科学院合肥物质科学研究院 地址 230000 安徽省合肥市董铺岛 (72)发明人 叶凯萱　文斐　张涛　李恭顺　 耿康宁　周振　高翔　 (74)专利代理机构 安徽安知珩知识产权代理事 务所(普通合伙) 34352 专利代理师 梁家进 (51)Int.Cl. G21B 1/23 (2006.01) G21B 1/05 (2006.01) 权利要求书3页 说明书8页 附图2页 (54)发明名称 一种基于微波反射实时识别和定位低阶有 理面位置的方法及装置 (57)摘要 本发明属于磁约束核聚变技术领域，公开了 一种基于微波反射实时识别和定位低阶有理面 位置的方法及装置。其技术方案包括以下方法步 骤：S1、获取不同探测频率微波在等离子体中的 传输延迟时间及其信号幅度；S2、通过反演获得 探测频率与托卡马克位置之间的映射关系和等 离子体电子密度分布；S3、通过空间插值后获得 不同径向位置的传输延迟时间及其信号幅度； S4、获得传输延迟时间的空间梯度，并根据信号 特征识别低阶有理面的径向坐标值。本发明能自 动识别和实时定位托卡马克中安全因子分布的 A 低阶有理面信息，与传统的基于磁测量反演方法 6 相比，本发明是基于微波反射的实验测量数据， 0 2