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硅光调制器及其形成方法

2023-04-23 09:23:27 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202011394481.0
  • 公开(公告)日:2024-09-13
  • 公开(公告)号:CN113960818A
  • 申请人:联合微电子中心有限责任公司
摘要:一种硅光调制器及其形成方法,所述方法包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底的表面进行刻蚀以得到脊型结构,所述脊型结构具有相邻的P型掺杂区域以及N型掺杂区域;其中,沿所述脊型结构的轴向方向,单位长度内所述P型掺杂区域以及N型掺杂区域之间的交界面积逐渐增大。本发明可以在沿脊型结构的轴向方向上,保持PN结性能参数的稳定,从而保证调制器沿轴向有均匀的特征阻抗和群折射率,进而提高调制器的调制效率、器件带宽及整体性能。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113960818 A (43)申请公布日 2022.01.21 (21)申请号 202011394481.0 (22)申请日 2020.12.02 (71)申请人 联合微电子中心有限责任公司 地址 401332 重庆市沙坪坝区西园一路28 号附2号 (72)发明人 胡志朋 邵斯竹 冯俊波  (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 代理人 武振华 张振军 (51) Int.C l. G02F 1/025 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 硅光调制器及其形成方法 (57)摘要 一种硅光调制器及其形成方法,所述方法包 括 :提供半导体衬底;在所述半导体衬底的表面 进行刻蚀以得到脊型结构,所述脊型结构具有相 邻的P型掺杂区域以及N型掺杂区域;其中,沿所 述脊型结构的轴向方向,单位长度内所述P型掺 杂区域以及N型掺杂区域之间的交界面积逐渐增 大。本发明可以在沿脊型结构的轴向方向上,保 持PN结性能参数的稳定,从而保证调制器沿轴向 有均匀的特征阻抗和群折射率,进而提高调制器 的调制效率、器件带宽及整体性能。 A 8 1 8 0 6 9 3 1 1 N C CN 113960818 A 权 利 要 求 书 1/2页 1.一种硅光调制器的形

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