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微机电器件硅通孔结构的制备方法、及微机电器件2024

2024-04-16 07:19:07 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202311719577.3
  • 公开(公告)日:2024-04-12
  • 公开(公告)号:CN117865058A
  • 申请人:赛莱克斯微系统科技(北京)有限公司
摘要:本申请的实施例提供了一种微机电器件硅通孔结构的制备方法、及微机电器件,所述方法包括:提供一硅晶圆和一衬底基板,硅晶圆包括相对设置的第一表面和第二表面,第一表面设置有第一凹槽,第一凹槽的侧壁与第一表面垂直或近似垂直;将硅晶圆的第一表面与衬底基板进行键合,得到键合衬底;对键合衬底中的第二表面进行干法刻蚀,以在第二表面形成与第一凹槽连通的第二凹槽,第二凹槽的侧壁与第二表面垂直或近似垂直,第二凹槽的宽度不等于第一凹槽的宽度;分离刻蚀后的所述键合衬底中的硅晶圆和衬底基板,得到具有硅通孔结构的硅晶圆。本申请的实施例能在不同晶相的硅晶圆上刻蚀得到上下不同尺寸且侧壁垂直或近似垂直的硅通孔结构。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117865058 A (43)申请公布日 2024.04.12 (21)申请号 202311719577.3 B81B 7/02 (2006.01) (22)申请日 2023.12.14 (71)申请人 赛莱克斯微系统科技(北京)有限公 司 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术 开发区科创十四街99号33幢D栋二层 2208号(集中办公区) (72)发明人 杨志政 王飞飞 祁富荣 李健飞  徐宝盈  (74)专利代理机构 北京众达德权知识产权代理 有限公司 11570 专利代理师 余婕 (51)Int.Cl. B81C 1/00 (2006.01) B81B 7/00 (2006.01) 权利要求书1页 说明书9页 附图2页 (54)发明名称 微机电器件硅通孔结构的制备方法、及微机 电器件 (57)摘要 本申请的实施例提供了一种微机电器件硅 通孔结构的制备方法、及微机电器件,所述方法 包括:提供一硅晶圆和一衬底基板,硅晶圆包括 相对设置的第一表面和第二表面,第一表面设置 有第一凹槽,第一凹槽的侧壁与第一表面垂直或 近似垂直;将硅晶圆的第一表面与衬底基板进行 键合,得到键合衬底;对键合衬底中的第二表面 进行干法刻蚀,以在第二表面形成与第一凹槽连 通的第二凹槽,第二凹槽的侧壁与第二表面垂

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