发明

基于最优去除函数选择的磁流变抛光加工方法2024

2024-06-01 08:10:06 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202410519957.0
  • 公开(公告)日:2024-07-23
  • 公开(公告)号:CN118081494A
  • 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要:本发明涉及光学加工技术领域,尤其涉及一种基于最优去除函数选择的磁流变抛光加工方法,通过在测试加工过程中控制抛光间隙的变化,以及磁流变抛光模块提供的磁流变液的流量的变化,收集抛光间隙和流量的变化下的去除函数及其体积去除率,并建立变化规律数据库,用于正式加工过程中设定理论设定去除函数体积和计算实际去除函数之间的材料去除偏差,进而确定在不同加工阶段实现高精度加工目标的最优去除函数。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118081494 A (43)申请公布日 2024.05.28 (21)申请号 202410519957.0 G06F 17/10 (2006.01) G06F 16/90 (2019.01) (22)申请日 2024.04.28 (71)申请人 中国科学院长春光学精密机械与物 理研究所 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发 区东南湖大路3888号 (72)发明人 李龙响 程润木 薛栋林 李兴昶  罗霄 张学军  (74)专利代理机构 长春中科长光知识产权代理 事务所(普通合伙) 22218 专利代理师 高一明 (51)Int.Cl. B24B 1/00 (2006.01) B24B 13/00 (2006.01) B24B 41/06 (2012.01) 权利要求书3页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 基于最优去除函数选择的磁流变抛光加工 方法 (57)摘要 本发明涉及光学加工技术领域,尤其涉及一 种基于最优去除函数选择的磁流变抛光加工方 法,通过在测试加工过程中控制抛光间隙的变 化,以及磁流变抛光模块提供的磁流变液的流量 的变化,收集抛光间隙和流量的变化下的去除函 数及其体积去除率,并建立变化规律数据库,用 于正式加工过程中设定理

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