发明

一种掩膜版及光学临近修正的方法

2023-06-11 13:20:09 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202110215006.0
  • 公开(公告)日:2024-08-16
  • 公开(公告)号:CN112965335A
  • 申请人:合肥维信诺科技有限公司
摘要:本发明实施例公开了一种掩膜版及光学临近修正的方法。其中,掩膜版包括至少一个图形对应区,其中,任一图形对应区包括主区和位于主区周围的至少一个光学临近失真补偿区,主区的透光率、与图形对应区邻接的外围区域的透光率和光学临近失真补偿区的透光率不相等,主区的透光率大于与图形对应区邻接的外围区域的透光率和光学临近失真补偿区的透光率中的较小值,主区的透光率小于与图形对应区邻接的外围区域的透光率和光学临近失真补偿区的透光率中的较大值。本发明实施例提供的技术方案可以高效快速实现补偿失真的曝光图形,且成本低。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112965335 A (43)申请公布日 2021.06.15 (21)申请号 202110215006.0 (22)申请日 2021.02.25 (71)申请人 合肥维信诺科技有限公司 地址 230000 安徽省合肥市新站区魏武路 与新蚌埠路交口西南角 (72)发明人 林楠 王中来 胡韬 刘兴华  (74)专利代理机构 北京远智汇知识产权代理有 限公司 11659 代理人 范坤坤 (51)Int.Cl. G03F 1/36 (2012.01) 权利要求书2页 说明书9页 附图14页 (54)发明名称 一种掩膜版及光学临近修正的方法 (57)摘要 本发明实施例公开了一种掩膜版及光学临 近修正的方法。其中,掩膜版包括至少一个图形 对应区,其中,任一图形对应区包括主区和位于 主区周围的至少一个光学临近失真补偿区,主区 的透光率、与图形对应区邻接的外围区域的透光 率和光学临近失真补偿区的透光率不相等,主区 的透光率大于与图形对应区邻接的外围区域的 透光率和光学临近失真补偿区的透光率中的较 小值,主区的透光率小于与图形对应区邻接的外 围区域的透光率和光学临近失真补偿区的透光 率中的较大值。本发明实施例提供的技术方案可 以高效快速实现补偿失真的曝光图形,且成本 A 低。 5 3 3 5 6 9 2 1 1 N C CN 112965335 A 权 利 要 求 书

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