一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面及测试系统2024

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117784291 A (43)申请公布日 2024.03.29 (21)申请号 202311810095.9 (22)申请日 2023.12.26 (71)申请人 北京信息科技大学 地址 100085 北京市海淀区清河小营东路 12号北京信息科技大学光电学院 (72)发明人 祝连庆　王尚　鹿利单　董明利　 何彦霖　陈伟强　陈光　 (74)专利代理机构 北京慧智兴达知识产权代理 有限公司 11615 专利代理师 刘宝山 (51)Int.Cl. G02B 1/00 (2006.01) G01N 21/3563 (2014.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面 及测试系统 (57)摘要 本发明提供了一种基于光子晶体的宽谱段 多光谱超表面，包括阵列的多个光子晶体单元结 构；每一个所述光子晶体单元结构包括3×3组光 子晶体阵列，每一组光子晶体具有不同周期的光 子晶体；每一组光子晶体阵列的参数如下：光子 晶体的厚度为光子晶体的晶格常数的一半，光子 晶体的孔穴半径为0.4 μm ～2.8 μm ，光子晶体的 晶格常数为1μm ～3.6 μm；光子晶体阵列的相邻 两行之间，对应的光子晶体之间的连线与水平线 的夹角θ为30°～90°。本发明实现对不同波段光 的准确识别和测量，长波红外8‑10 μm激光的多 A 光谱兼容和识别。 1 9