发明

一种适用于MEMS加速度传感器芯片的低应力封装结构

2023-05-24 13:15:54 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202011001239.2
  • 公开(公告)日:2024-07-02
  • 公开(公告)号:CN112158792A
  • 申请人:浙江大学
摘要:本发明涉及传感器芯片封装领域,尤其涉及一种适用于MEMS加速度传感器芯片的低应力封装结构,包括MEMS传感器芯片和管壳,传感器芯片底部两端设有金属层区域,管壳腔体底部两端也设有对应的金属层区域;传感器芯片底部一端金属层与管壳腔体底部一端金属层粘接,芯片底部另一端金属层与管壳腔体底部另一端金属层仅接触但不粘接;为阻止粘接材料高温封装时溢向另一侧金属层区域,在传感器芯片底部两侧金属层之间,靠近其中一侧设有凹槽;MEMS传感器芯片仅底部一端与管壳封装为一体,另一端呈自由状态,且芯片与管壳侧壁留有一定的间隙,保证了高温封装时,芯片材料有一定裕度的膨胀空间,从而将传感器的封装应力降低到最小。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112158792 A (43)申请公布日 2021.01.01 (21)申请号 202011001239.2 (22)申请日 2020.09.22 (71)申请人 浙江大学 地址 310012 浙江省杭州市西湖区余杭塘 路866号 (72)发明人 车录锋  (74)专利代理机构 杭州君度专利代理事务所 (特殊普通合伙) 33240 代理人 徐锋 (51)Int.Cl. B81B 7/02 (2006.01) B81B 7/00 (2006.01) B81C 1/00 (2006.01) 权利要求书1页 说明书4页 附图4页 (54)发明名称 一种适用于MEMS加速度传感器芯片的低应 力封装结构 (57)摘要 本发明涉及传感器芯片封装领域,尤其涉及 一种适用于MEMS加速度传感器芯片的低应力封 装结构,包括MEMS传感器芯片和管壳,传感器芯 片底部两端设有金属层区域,管壳腔体底部两端 也设有对应的金属层区域;传感器芯片底部一端 金属层与管壳腔体底部一端金属层粘接,芯片底 部另一端金属层与管壳腔体底部另一端金属层 仅接触但不粘接;为阻止粘接材料高温封装时溢 向另一侧金属层区域,在传感器芯片底部两侧金 属层之间,靠近其中一侧设有凹槽;MEMS传感器 芯片仅底部一端与管壳封装为一体,另一端呈自 A 由状态,且芯片与管壳侧壁留有一定的间隙,保 2 证了高温封装时,芯片材料有一定裕度的膨胀空

最新专利