一种芯片的检测组件

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116511099 A (43)申请公布日 2023.08.01 (21)申请号 202310506470.4 (22)申请日 2022.08.29 (62)分案原申请数据 202211041604.1 2022.08.29 (71)申请人 深圳市立能威微电子有限公司 地址 518000 广东省深圳市坪山区龙田街 道竹坑社区兰竹东路8号同力兴工业 厂区6号厂房101及整栋 (72)发明人 艾育林　林延海　 (74)专利代理机构 深圳市宏德雨知识产权代理 事务所(普通合伙) 44526 专利代理师 王攀 (51)Int.Cl. B07C 5/344 (2006.01) B07C 5/36 (2006.01) 权利要求书1页 说明书5页 附图10页 (54)发明名称 一种芯片的检测组件 (57)摘要 本发明涉及芯片分选检测设备技术领域，提 出了一种芯片的检测组件，所述检测组件包括升 降设置在所述机架上的检测托架及设置在所述 检测托架上的检测头，所述检测头具有与待检测 芯片接触的探针，还包括设置在所述检测头中心 的吸附嘴及套设在所述探针上的绝缘套管，所述 吸附嘴升降设置在所述检测头中心。通过上述技 术方案，解决了现有技术中芯片分选检测过程中 引脚之间发生放电造成减损、安全性不稳定的问 题。 A 9 9 0 1 1 5 6 1 1 N C