一种靶件污染去除及取样装置

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116434996 A (43)申请公布日 2023.07.14 (21)申请号 202211653292.X (22)申请日 2022.12.21 (71)申请人 中国原子能科学研究院 地址 102413 北京市房山区新镇三强路1号 院 (72)发明人 涂兴明　文富平　屈哲昊　张壮壮　 娄海林　王绍林　董迁　 (74)专利代理机构 北京天悦专利代理事务所 (普通合伙) 11311 专利代理师 田明　任晓航 (51)Int.Cl. G21F 9/00 (2006.01) G21F 7/04 (2006.01) B08B 9/36 (2006.01) 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 (54)发明名称 一种靶件污染去除及取样装置 (57)摘要 本发明属于放射性靶件去污技术领域，具体 涉及一种靶件污染去除及取样装置，用于在手套 箱内对放射性的靶件 (4)进行去污及取样操作， 包括安装在长方形的系统底架(1)上的夹持机构 和擦拭机构，所述夹持机构用于对圆筒形的所述 靶件 (4)进行固定，所述擦拭机构用于对所述靶 件 (4)进行擦拭。本发明在对靶件的去污和取样 操作中，降低了操作人员指端剂量和全身外照射 剂量，增加了去污的效果，简化了操作。 A 6 9 9 4 3 4 6 1 1 N C CN 116434996 A 权　利　要　求　书