发明

一种脱除氢气中痕量磷杂质的分子筛的筛选方法及系统2025

2024-06-01 07:54:54 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202311752103.9
  • 公开(公告)日:2025-07-08
  • 公开(公告)号:CN118098382A
  • 申请人:华东理工大学|||新疆戈恩斯能源科技有限公司
摘要:本发明公开了一种脱除氢气中痕量磷杂质的分子筛的筛选方法及系统,其中方法步骤包括:基于DFT方法进行力场开发,得到模拟力场,所述模拟力场用于描述分子筛对痕量磷杂质的吸附能力;基于所述模拟力场,得到最优分子筛结构,所述最优分子筛用于脱除氢气中的痕量磷杂质。本发明依据多个簇模型选择簇模型作为力场调整的基础模型,相较于以往的力场调整方法,能够节省更多计算成本。对于没有实验数据和具有较大毒性的气体的模拟筛选具有较大的参考意义。同时,可以利用模拟手段精准预测循环氢气中痕量PH3在全硅分子筛中的吸附行为,尽可能避免了实验操作所需要的大量人力和物力消耗。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118098382 A (43)申请公布日 2024.05.28 (21)申请号 202311752103.9 G16C 60/00 (2019.01) (22)申请日 2023.12.19 (71)申请人 华东理工大学 地址 200237 上海市徐汇区华东理工大学 梅陇路130号 申请人 新疆戈恩斯能源科技有限公司 (72)发明人 孙伟振 季建波 赵亚军 闫可欣  赵鹏 梁晓阳 王宁  (74)专利代理机构 北京东方盛凡知识产权代理 有限公司 11562 专利代理师 邹彬 (51)Int.Cl. G16C 10/00 (2019.01) G16C 20/70 (2019.01) G16C 20/90 (2019.01) 权利要求书2页 说明书10页 附图2页 (54)发明名称 一种脱除氢气中痕量磷杂质的分子筛的筛 选方法及系统 (57)摘要 本发明公开了一种脱除氢气中痕量磷杂质 的分子筛的筛选方法及系统,其中方法步骤包 括:基于DFT方法进行力场开发,得到模拟力场, 所述模拟力场用于描述分子筛对痕量磷杂质的 吸附能力;基于所述模拟力场,得到最优分子筛 结构,所述最优分子筛用于脱除氢气中的痕量磷 杂质。本发明依据多个簇模型选择簇模型作为力 场调整的基础模型,相较于以往的力场调整方 法,能够节省更多计算成本。

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