一种光芯片的测试装置2023

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219870235 U (45)授权公告日 2023.10.20 (21)申请号 202322539451.X (22)申请日 2023.09.18 (73)专利权人 北京光智元科技有限公司 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术 开发区荣华中路19号院1号楼A座7层 722A室 (72)发明人 沈亦晨　张尚露　 (74)专利代理机构 深圳紫藤知识产权代理有限 公司 44570 专利代理师 张华蒙 (51)Int.Cl. G01M 11/02 (2006.01) 权利要求书1页 说明书5页 附图2页 (54)实用新型名称 一种光芯片的测试装置 (57)摘要 本实用新型公开了一种光芯片的测试装置， 包括 ：激光器 ；一端与所述激光器相耦接的第一 光开关；与所述第一光开关另一端相耦接的入射 光纤，所述入射光纤还和待测试光芯片的光入射 端相耦接；与所述待测试光芯片的光出射端相耦 接的出射光纤 ；光纤承载体，用于承载所述入射 光纤和所述出射光纤 ；第二光开关，用于和所述 出射光纤相耦接；与所述第二光开关相耦接的光 功率计。本申请能够在完成光芯片的不同间距回 环结构的光谱测试时，节省拔插光纤的步骤和时 间，简化测试流程，减少测试时间。 U 5 3 2 0 7 8 9 1 2 N C CN 219870235 U 权　利　要　求　书