光学装置及光学式测量机

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112764184 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202011123065.7 (22)申请日 2020.10.20 (30)优先权数据 2019-192067 2019.10.21 JP (71)申请人 株式会社三丰 地址 日本神奈川县 (72)发明人 根本贤太郎　 (74)专利代理机构 北京林达刘知识产权代理事 务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇　张会华 (51)Int.Cl. G02B 7/02 (2021.01) G01B 11/24 (2006.01) 权利要求书1页 说明书7页 附图12页 (54)发明名称 光学装置及光学式测量机 (57)摘要 本发明涉及光学装置和光学式测量机。光学 装置(10)有：第1透镜保持件(4)，其保持准直透 镜(21)；第2连结块(7)，其支承第1透镜保持件； 第2透镜保持件(6)，其支承光成形透镜(22)；圆 柱状的辊(9)，其夹在第2连结块和第2透镜保持 件之间且沿X轴方向配置；以及一对调整螺钉 (82)，其配置为在Y轴方向上隔着光轴且将第2透 镜保持件和第2连结块相互固定。在第2连结块和 第2透镜保持件的彼此相对的各端面(64、74)沿X 轴方向形成有隔着辊地配置的字母V形的槽(65、 75)，调整螺钉有以能相对于第2透镜保持件沿X 轴方向移动的方式卡合于该第2透镜保持件的头 A 部和与第2连结块螺纹结合的轴部。