一种针对存储模块故障注入集缩减的方法

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114694735 A (43)申请公布日 2022.07.01 (21)申请号 202210255208.2 (22)申请日 2022.03.15 (71)申请人 西安电子科技大学广州研究院 地址 510555 广东省广州市黄埔区中新知 识城海丝中心B5、B6、B7栋 (72)发明人 刘毅　廖剑　徐长卿　 (74)专利代理机构 广东省中源正拓专利代理事 务所(普通合伙) 44748 专利代理师 覃汉赳 (51)Int.Cl. G11C 29/10 (2006.01) G11C 29/08 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图2页 (54)发明名称 一种针对存储模块故障注入集缩减的方法 (57)摘要 本发明公开了一种针对存储模块故障注入 集缩减的方法，涉及辐射效应仿真领域。使用预 设的仿真测试程序对目标集成电路的存储模块 进行测试，得到读写信息文件；使用预设的读写 信息分析算法分析读写信息文件，确定存储模块 在测试期间的无效注入时间区间；对故障注入集 进行故障注入有效性分析，去除故障注入集中处 于无效注入时间区间以及无效电路节点的注入 故障，得到缩减后的故障注入集。通过存储模块 的读写信息文件确定无效注入时间区间，去除故 障注入集中处于无效注入时间区间以及无效电 路节点的注入故障，从时间和空间两个维度缩减 A 故障注入集，减少仿真时间成本，提高仿真效率。 5 3 7 4 9 6 4 1