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存储系统测试系统、方法、装置、通信设备及存储介质2024

2024-03-05 07:13:47 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202311434839.1
  • 公开(公告)日:2024-03-01
  • 公开(公告)号:CN117637008A
  • 申请人:苏州元脑智能科技有限公司
摘要:本申请实施例提供了一种存储系统测试系统、方法、装置、通信设备及存储介质,包括:测试管理主机、光衰减器以及存储系统,存储系统包括存储设备;测试管理主机上搭载有测试系统;测试管理主机和光衰减器之间通信连接;测试系统通过调节光衰减器对存储系统中的存储设备进行测试项目对应的故障测试,并生成测试项目对应的测试分析结果。即本申请实施例中的存储系统测试系统通过存储系统、测试管理主机以及光衰减器构成,通过测试管理主机上搭载的测试系统与当前存储系统构成的待测环境对接,通过调节光衰减器进行故障测试,最终输出测试结果。通过本申请实施例中的存储系统测试系统可以充分验证待测试的存储系统在各种故障模式下的稳定性和可靠性。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117637008 A (43)申请公布日 2024.03.01 (21)申请号 202311434839.1 (22)申请日 2023.10.31 (71)申请人 苏州元脑智能科技有限公司 地址 215000 江苏省苏州市吴中经济开发 区郭巷街道官浦路1号9幢 (72)发明人 吴燕宇  (74)专利代理机构 北京润泽恒知识产权代理有 限公司 11319 专利代理师 黄佳 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) H04B 10/25 (2013.01) 权利要求书2页 说明书10页 附图3页 (54)发明名称 存储系统测试系统、方法、装置、通信设备及 存储介质 (57)摘要 本申请实施例提供了一种存储系统测试系 统、方法、装置、通信设备及存储介质,包括:测试 管理主机、光衰减器以及存储系统,存储系统包 括存储设备;测试管理主机上搭载有测试系统; 测试管理主机和光衰减器之间通信连接;测试系 统通过调节光衰减器对存储系统中的存储设备 进行测试项目对应的故障测试,并生成测试项目 对应的测试分析结果。即本申请实施例中的存储 系统测试系统通过存储系统、测试管理主机以及 光衰减器构成,通过测试管理主机上搭载的测试 系统与当前存储系统构成的待测环境对接,通过 A 调节光衰减器进行故障测试,最终输出测试结 8 果。通过本申请实施例中的存储系统测试系统可 0 0 7 以充分验证待测试的存储系统在

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