一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置2024

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117490859 A (43)申请公布日 2024.02.02 (21)申请号 202311443478.7 G01J 5/46 (2006.01) (22)申请日 2023.11.01 (71)申请人 中国航空工业集团公司北京长城计 量测试技术研究所 地址 100095 北京市海淀区温泉镇环山村 1066信箱 (72)发明人 张学聪　李丹　高一凡　蔡静　 路海晶　任佳　 (74)专利代理机构 北京市隆安律师事务所 11323 专利代理师 付建军 (51)Int.Cl. G01J 5/80 (2022.01) G01J 5/08 (2022.01) G01J 5/12 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图2页 (54)发明名称 一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法 及装置 (57)摘要 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境 温度补偿方法及装置，所述方法包括：Sakuma方 程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、 探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程， 得到修正后的Sakuma方程；标定步骤：以黑体辐 射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射 源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的 Sakuma方程，求解得到三个待定系数；测试步骤： 将求解得到的系数代回修正后的