选择性读取扰动取样

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992241 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202011496084.4 (22)申请日 2020.12.17 (30)优先权数据 16/718,051 2019.12.17 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 K ·K ·姆奇尔拉　H ·R ·桑吉迪　 R ·C ·帕迪拉　V ·P ·拉亚普鲁　 A ·马尔谢　S ·K ·瑞特南　 (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 代理人 王龙 (51)Int.Cl. G11C 16/34 (2006.01) G11C 16/08 (2006.01) 权利要求书4页 说明书15页 附图9页 (54)发明名称 选择性读取扰动取样 (57)摘要 本申请涉及选择性读取扰动取样。存储器系 统中的处理装置维持计数器以跟踪对存储器装 置的数据块执行的读取操作的数目，且确定对所 述数据块执行的读取操作的所述数目满足第一 阈值准则。所述处理装置进一步确定对所述数据 块执行扫描操作的数目是否满足扫描阈值准则。 响应于对所述数据块执行的扫描操作的所述数 目满足所述扫描阈值准则，所述处理装置执行第 一数据完整性扫描以确定所述数据块的一或多 个第一错误率，所述一或多个第一错误率中的每 一个对应于所述数据块的第一组字线，所述第