抗磁测试装置

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218647637 U (45)授权公告日 2023.03.17 (21)申请号 202320121205.X (22)申请日 2023.02.06 (73)专利权人 北京智芯微电子科技有限公司 地址 100192 北京市海淀区西小口路66号 中关村东升科技园A区3号楼 专利权人 北京芯可鉴科技有限公司 (72)发明人 符艳军　钟明琛　单书珊　潘成　 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) G05D 23/30 (2006.01) 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 (54)实用新型名称 抗磁测试装置 (57)摘要 本实用新型实施例提供一种抗磁测试装置， 属于芯片测试技术领域。所述抗磁测试装置包 括：温控设备，用于输出预设温度的温控气流，以 调节测试环境的温度；导流管，用于导出所述温 控气流；热流管，与所述导流管连接，用于容纳被 测产品；电磁铁，环绕所述热流管设置，以提供所 述抗磁测试需要的磁场；控制台，用于调节所述 被测产品在所述热流管中的位置。所述抗磁测试 装置解决了现有抗磁测试装置有限空间中提供 强磁场环境的电磁铁与温控设备协同工作的问 题。 U 7 3 6 7 4 6 8 1 2 N C CN 218647637 U 权　利　要　求　书 1/1页 1.一种抗磁测试装置，其特征在于，包括： 温