芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备和存储介质2026

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117850540 A (43)申请公布日 2024.04.09 (21)申请号 202410046697.X (22)申请日 2024.01.12 (71)申请人 苏州华兴源创科技股份有限公司 地址 215000 江苏省苏州市苏州工业园区 青丘巷8号 (72)发明人 蔡公华　董亚明　陈焕　 (74)专利代理机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 专利代理师 郭凤杰 (51)Int.Cl. G06F 1/12 (2006.01) G06F 11/273 (2006.01) G06F 11/22 (2006.01) G06F 15/78 (2006.01) 权利要求书2页 说明书10页 附图5页 (54)发明名称 芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备 和存储介质 (57)摘要 本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及 一种芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备、 存储介质。芯片测试机包括主背板以及若干个从 背板，主背板包括高精度时钟芯片以及第一可编 程逻辑芯片，方法包括：响应于进行时钟同步处 理的指令，配置并发送预设频率的低频检测时钟 信号；当检测到低频检测时钟信号时，基于高精 度时钟芯片配置目标频率的高精度时钟信号，目 标频率高于预设频率；当验证第一可编程逻辑芯 片和第二可编程逻辑芯片当前获取的时钟信号 满足预设的状态约束条件时，基于高精度时钟芯 A 片发送高精度时钟信号至第一可