芯片分选方法、装置、设备及存储介质2024

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118060206 A (43)申请公布日 2024.05.24 (21)申请号 202410435484.6 (22)申请日 2024.04.11 (71)申请人 蓝钛思（深圳）智造有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街 道新雪社区上雪科技工业城C区E栋 201 (72)发明人 孔方　 (74)专利代理机构 深圳汉林汇融知识产权代理 事务所(普通合伙) 44850 专利代理师 刘泳麟 (51)Int.Cl. B07C 5/34 (2006.01) B07C 5/36 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图2页 (54)发明名称 芯片分选方法、装置、设备及存储介质 (57)摘要 本申请涉及芯片测试技术领域，提供了芯片 分选方法、装置、设备及存储介质。该方法包括： 在同一时间段内，基于辐射控制曲线对目标芯片 进行辐射控制，并基于温度控制曲线对所述目标 芯片进行温度控制，及在对所述目标芯片同时进 行辐射控制和温度控制的过程中，通过预设的参 数检测装置实时获取所述目标芯片的各个参数 的测试值，得到测试参数信息；基于标准参数信 息和所述测试参数信息确定所述目标芯片的目 标受干扰因子；基于所述目标受干扰因子判断所 述目标芯片是否合格。该方法能够提高芯片分选 的可靠性。 A 6 0 2 0 6 0 8 1 1 N C CN 118060206