一种自动光学检测方法及AOI设备

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114505251 A (43)申请公布日 2022.05.17 (21)申请号 202210003639.X (22)申请日 2022.01.04 (71)申请人 深圳市埃尔法光电科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙华区龙华街 道清湖社区清湖村宝能科技园7栋A座 10楼 (72)发明人 陈纪辉　彭寒勤　黄君彬　杨勇　 付全飞　童小琴　 (74)专利代理机构 深圳市恒申知识产权事务所 (普通合伙) 44312 专利代理师 钟连发 (51)Int.Cl. B07C 5/34 (2006.01) B07C 5/38 (2006.01) 权利要求书3页 说明书12页 附图5页 (54)发明名称 一种自动光学检测方法及AOI设备 (57)摘要 本申请提供了一种自动光学检测方法及AOI 设备。其中，自动光学检测方法包括：通过输送装 置将待测PCB输送至预检测装置；通过预检测装 置对各光电产品的产品身份标签进行扫描，得到 各光电产品的产品身份信息；通过输送装置将待 测PCB输送至AOI装置；通过AOI装置对各光电产 品进行光学检测，得到检测结果；若检测结果指 示不存在不良光电产品，则通过输送装置将待测 PCB输送至合格品下料位；若检测结果指示存在 不良光电产品，则通过AOI装置对不良光电产品 进行打点标记；将检测结果与各光电产品的产品 身份信息关联输出；其中，待测PCB包括基板和