纳米刻写光盘的编码信息写入与干涉测量读取方法及装置
- 申请专利号:CN202010514797.2
- 公开(公告)日:2024-10-25
- 公开(公告)号:CN113838486A
- 申请人:中国科学院上海高等研究院
专利内容
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113838486 A (43)申请公布日 2021.12.24 (21)申请号 202010514797.2 G11B 7/126(2012.01) (22)申请日 2020.06.08 (71)申请人 中国科学院上海高等研究院 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技 园区海科路99号 (72)发明人 王中阳 张力 葛畅 王虎 孙静 (74)专利代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 邓琪 (51)Int.Cl. G11B 7/0065(2006.01) G11B 7/007(2006.01) G11B 7/1353(2012.01) G11B 7/1372(2012.01) G11B 7/1374(2012.01) 权利要求书3页 说明书9页 附图4页 (54)发明名称 纳米刻写光盘的编码信息写入与干涉测量 读取方法及装置 (57)摘要 本发明提供一种纳米刻写光盘的编码信息 写入与干涉测量读取方法,包括:将待存储信息 m 进行2 进制的数据编码,得到存储数码,存储数 码的每一位分别对应于m个二进制信息;通过纳 米信息写入方法在每个存储位点上以m个记录点 的形式进行存储数码写入,m个记