发明

纳米刻写光盘的编码信息写入与干涉测量读取方法及装置

2023-07-06 11:02:40 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202010514797.2
  • 公开(公告)日:2024-10-25
  • 公开(公告)号:CN113838486A
  • 申请人:中国科学院上海高等研究院
摘要:本发明提供一种纳米刻写光盘的编码信息写入与干涉测量读取方法,包括:将待存储信息进行2m进制的数据编码,得到存储数码,存储数码的每一位分别对应于m个二进制信息;通过纳米信息写入方法在每个存储位点上以m个记录点的形式进行存储数码写入,m个记录点在进行信息刻录后分别对应于m个不同的光程信息;将读取光束的其中一束照射于存储位点,收集反射光并与读取光束的固定相位光束进行干涉,测得光强干涉结果,并根据光强干涉结果与存储数码的对应关系实现存储数码的读取。本发明还提供了相应的读取装置。本发明的方法通过纳米光刻,提升了信息存储量,同时采用干涉测量方法作为光盘的读取方法,可实现高存储密度光盘的快速信息读取。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113838486 A (43)申请公布日 2021.12.24 (21)申请号 202010514797.2 G11B 7/126(2012.01) (22)申请日 2020.06.08 (71)申请人 中国科学院上海高等研究院 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技 园区海科路99号 (72)发明人 王中阳 张力 葛畅 王虎 孙静  (74)专利代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 邓琪 (51)Int.Cl. G11B 7/0065(2006.01) G11B 7/007(2006.01) G11B 7/1353(2012.01) G11B 7/1372(2012.01) G11B 7/1374(2012.01) 权利要求书3页 说明书9页 附图4页 (54)发明名称 纳米刻写光盘的编码信息写入与干涉测量 读取方法及装置 (57)摘要 本发明提供一种纳米刻写光盘的编码信息 写入与干涉测量读取方法,包括:将待存储信息 m 进行2 进制的数据编码,得到存储数码,存储数 码的每一位分别对应于m个二进制信息;通过纳 米信息写入方法在每个存储位点上以m个记录点 的形式进行存储数码写入,m个记

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