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一种兼容多SPI模式的Nor Flash测试系统及方法2026
2026-03-14 11:53:56
发布于四川
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- 申请专利号：CN202511540435.X
- 公开（公告）日：2026-03-13
- 公开（公告）号：CN121658303A
- 申请人：合肥中科智存科技有限公司
摘要：本申请提供一种兼容多SPI模式的Nor Flash测试系统及方法，涉及存储芯片测试技术领域，解决现有技术存在Nor Flash多SPI模式验证需重复编写测试用例，代码冗余度高、验证效率低的技术问题。该系统具体包括：spi_seq模块、spi_sqr模块、spi_drv模块、spi_mon模块、flash_reference_model模块、scoreboard模块、current_spi_cfg类及spi_transaction类。通过全局静态current_spi_cfg类与spi_transaction类的post_randomize()回调函数结合，实现同一测试用例自动适配多SPI模式，无需为不同SPI模式重复编写测试用例，大幅降低代码冗余度；同时依托UVM架构的模块化设计提升系统可移植性，通过flash_reference_model模拟芯片行为生成期望数据、scoreboard自动对比结果，替代传统人工观测波形的判断方式，降低错误率。本申请用于Nor Flash测试。
专利内容
本申请提供一种兼容多SPI模式的Nor Flash测试系统及方法，涉及存储芯片测试技术领域，解决现有技术存在Nor Flash多SPI模式验证需重复编写测试用例，代码冗余度高、验证效率低的技术问题。该系统具体包括：spi_seq模块、spi_sqr模块、spi_drv模块、spi_mon模块、flash_reference_model模块、scoreboard模块、current_spi_cfg类及spi_transaction类。通过全局静态current_spi_cfg类与spi_transaction类的post_randomize()回调函数结合，实现同一测试用例自动适配多SPI模式，无需为不同SPI模式重复编写测试用例，大幅降低代码冗余度；同时依托UVM架构的模块化设计提升系统可移植性，通过flash_reference_model模拟芯片行为生成期望数据、scoreboard自动对比结果，替代传统人工观测波形的判断方式，降低错误率。本申请用于Nor Flash测试。G06F11/26(2006.01);G06F11/3668(2025.01)
