一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法2025

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117536605 A (43)申请公布日 2024.02.09 (21)申请号 202311497279.4 G01V 5/12 (2006.01) (22)申请日 2023.11.10 (71)申请人 电子科技大学 地址 611731 四川省成都市高新区（西区） 西源大道2006号 (72)发明人 张琼　陈定坤　谢昱北　 (74)专利代理机构 电子科技大学专利中心 51203 专利代理师 余涛 (51)Int.Cl. E21B 47/00 (2012.01) E21B 49/00 (2006.01) G06F 17/12 (2006.01) G06F 17/16 (2006.01) G01V 5/04 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 (54)发明名称 一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精 度提高方法 (57)摘要 本发明属于测井技术领域，具体涉及一种针 对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法。 该方法从核测井物理原理出发，分析并推导出核 测井测量曲线与真实地层物理参数的函数关系 式，并基于该关系式提出了一种基于核物理原理 的针对过套管测井的非仪器改进、非重复性测量 的密度和中子孔隙度测井数据的分辨率提高方 法。通过滑动窗方法建立相应的最优化问题，并 引入中子、密度交叉约束以减小提高分辨率