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纠正NAND Flash中多比特错误的ECC装置和方法2024

2024-03-05 07:22:56 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN201910080160.4
  • 公开(公告)日:2024-03-01
  • 公开(公告)号:CN109785895A
  • 申请人:西安紫光国芯半导体股份有限公司
摘要:本发明提供了纠正NAND Flash中多比特错误的ECC装置和方法。该装置和方法通过将待处理数据进行空间变换,将数据从一维变换到二维空间,把数据位的错误分散到多个编码单元中,然后分别对行和列的维度上分别进行Hamming编码,将行ECC编码和列ECC编码以及数据一起保存在NAND Flash中。在数据读取时,将数据再次变换到二维空间,利用行ECC编码/列ECC编码分别进行校验,用列ECC校验成功的数据更新行数据,实现多比特纠错的目的。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 109785895 A (43)申请公布日 2019.05.21 (21)申请号 201910080160.4 (22)申请日 2019.01.28 (71)申请人 西安紫光国芯半导体有限公司 地址 710003 陕西省西安市高新区软件新 城天谷八路528号国家电子商务示范 基地西区606 (72)发明人 吕晶 周小锋 江喜平  (74)专利代理机构 北京北翔知识产权代理有限 公司 11285 代理人 关丽丽 郑建晖 (51)Int.Cl. G11C 29/42(2006.01) G11C 29/44(2006.01) 权利要求书3页 说明书11页 附图3页 (54)发明名称 纠正NAND Flash中多比特错误的ECC装置和 方法 (57)摘要 本发明提供了纠正NAND Flash中多比特错 误的ECC装置和方法。该装置和方法通过将待处 理数据进行空间变换,将数据从一维变换到二维 空间,把数据位的错误分散到多个编码单元中, 然后分别对行和列的维度上分别进行Hamming编 码,将行ECC编码和列ECC编码以及数据一起保存 在NAND Flash中。在数据读取时,将数据再次变 换到二维空间,利用行ECC编码/列ECC编码分别 进行校验,用列ECC校验成功的数据更新行数据, 实现多比特纠错的目的。

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