一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装置及反演方法2026

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118068244 A (43)申请公布日 2024.05.24 (21)申请号 202410124879.4 (22)申请日 2024.01.29 (71)申请人 电子科技大学 地址 611731 四川省成都市高新区（西区） 西源大道2006号 (72)发明人 张云鹏　朱香宝　谢春茂　范哲源　 高冲　余承勇　龙嘉威　高勇　 李恩　 (74)专利代理机构 电子科技大学专利中心 51203 专利代理师 李岚 (51)Int.Cl. G01R 33/12 (2006.01) 权利要求书3页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 一种电磁结构材料的等效电磁参数测试装 置及反演方法 (57)摘要 本发明的目的在于提供一种电磁结构材料 的等效电磁参数测试装置及反演方法，属于材料 电磁性能测试技术领域。该装置创新性地设置圆 周型滑轨，使装置能够在不同入射角域下实现对 电磁结构材料反射系数和传输系数的获取，并基 于反射系数和传输系数推导出斜入射下的等效 电磁参数反演公式；同时，反演过程基于装置进 行了适应性改进，尤其是对校准过程进行完善， 从而实现了在不同入射角域下对等效电磁参数 的反演，为电磁结构材料的研发和应用提供了更 多维度的电磁性能基础数据的可能性。 A 4 4 2 8 6 0 8 1 1 N C CN 118068244 A