发明
极片的纵向延展率的测量方法2025
2025-04-26 11:43:57
发布于四川
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- 申请专利号:CN202510071261.0
- 公开(公告)日:2025-04-25
- 公开(公告)号:CN119880690A
- 申请人:江苏天合储能有限公司
摘要:本发明涉及极片延展率测量技术领域,具体提供一种极片的纵向延展率的测量方法。本发明的测量方法包括以下步骤:在极片的表面形成多条沿极片的长度方向延伸的直线;获取极片的n个未辊压样本并称重,未辊压样本覆盖两条直线;获取极片的n个辊压后样本并称重,n个辊压后样本与n个未辊压样本一一对应;测量辊压后样本覆盖的两条直线之间的间距;计算极片的纵向延展率=综合延展率‑横向延展率。本发明将综合延展率与横向延展率进行结合,能够测量出极片的纵向延展率,通过在极片上形成多条直线,使进行综合延展率计算的样本覆盖相同的两条直线,并根据这两条直线之间的间距变化量计算横向延展率,能够提高纵向延展率测量的准确性。
专利内容
本发明涉及极片延展率测量技术领域,具体提供一种极片的纵向延展率的测量方法。本发明的测量方法包括以下步骤:在极片的表面形成多条沿极片的长度方向延伸的直线;获取极片的n个未辊压样本并称重,未辊压样本覆盖两条直线;获取极片的n个辊压后样本并称重,n个辊压后样本与n个未辊压样本一一对应;测量辊压后样本覆盖的两条直线之间的间距;计算极片的纵向延展率=综合延展率‑横向延展率。本发明将综合延展率与横向延展率进行结合,能够测量出极片的纵向延展率,通过在极片上形成多条直线,使进行综合延展率计算的样本覆盖相同的两条直线,并根据这两条直线之间的间距变化量计算横向延展率,能够提高纵向延展率测量的准确性。G01N5/00(2006.01);G01B21/16(2006.01)
原创力.专利