发明

微纳光学器件制造方法

2023-06-05 18:25:55 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202011624355.X
  • 公开(公告)日:2024-08-30
  • 公开(公告)号:CN112731774A
  • 申请人:嘉兴驭光光电科技有限公司
摘要:本申请公开了一种微纳光学器件制造方法,该方法包括:利用半导体光刻和刻蚀工艺在晶圆上形成第一微纳结构;在晶圆上涂敷光刻胶;将第一区域中的光刻胶完全移除,以露出至少部分第一微纳结构,并对第二区域中的光刻胶进行灰度曝光,以在第二区域的光刻胶上形成第二微纳结构;以及将第一和第二微纳结构转印到待加工材料的表面上。根据本发明实施例,通过在已经经过半导体光刻刻蚀工艺处理的晶圆上涂覆灰度曝光用的光刻胶并选择性地进行部分区域的完全除胶和部分区域的灰度曝光,在一个统一的制作流程中融合了两种不同的微纳结构制作工艺;相应地,可以实现不同的微纳结构的构造制作。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112731774 A (43)申请公布日 2021.04.30 (21)申请号 202011624355.X (22)申请日 2020.12.31 (71)申请人 嘉兴驭光光电科技有限公司 地址 314500 浙江省嘉兴市桐乡市高桥大 道1156号3幢8楼 (72)发明人 王淼  (74)专利代理机构 北京方可律师事务所 11828 代理人 吴艳 郝东晖 (51)Int.Cl. G03F 7/20 (2006.01) B81C 1/00 (2006.01) B82Y 40/00 (2011.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图6页 (54)发明名称 微纳光学器件制造方法 (57)摘要 本申请公开了一种微纳光学器件制造方法, 该方法包括:利用半导体光刻和刻蚀工艺在晶圆 上形成第一微纳结构;在晶圆上涂敷光刻胶;将 第一区域中的光刻胶完全移除,以露出至少部分 第一微纳结构,并对第二区域中的光刻胶进行灰 度曝光,以在第二区域的光刻胶上形成第二微纳 结构;以及将第一和第二微纳结构转印到待加工 材料的表面上。根据本发明实施例,通过在已经 经过半导体光刻刻蚀工艺处理的晶圆上涂覆灰 度曝光用的光刻胶并选择性地进行部分区域的 完全除胶和部分区域的灰度曝光,在一个统一的 制作流程中融合了两种不同的微纳结构制作工 A 艺;相应地,可以实现不同的微纳结构的构造制 4 作。 7 7 1 3 7 2 1 1 N C

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