发明

一种二维材料电子器件及其制备方法和应用

2023-05-28 13:39:30 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202011320451.5
  • 公开(公告)日:2024-04-19
  • 公开(公告)号:CN112357878A
  • 申请人:华东师范大学
摘要:本发明涉及电子器件技术领域,特别涉及一种二维材料电子器件及其制备方法和应用。本发明提供的制备方法,包括以下步骤:在绝缘衬底的表面从下到上依次制备二维材料层、刻蚀阻挡层和石墨烯层,得到第一中间产物;所述刻蚀阻挡层的面积分别小于二维材料层和石墨烯层的面积且所述石墨烯层完全包覆所述刻蚀阻挡层;以二维材料层、刻蚀阻挡层和石墨烯层的重叠区域为起点,在第一中间产物的上表面进行图形化后,根据得到的图形制备金属电极,得到第二中间产物;以金属电极为掩膜版,对第二中间产物中的二维材料层和石墨烯层进行刻蚀,得到二维材料电子器件。本发明通过设置刻蚀阻挡层,保护二维材料层不受刻蚀的影响,从而保证电子器件的电学性能。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112357878 A (43)申请公布日 2021.02.12 (21)申请号 202011320451.5 (22)申请日 2020.11.23 (71)申请人 华东师范大学 地址 200241 上海市闵行区东川路500号 (72)发明人 吴幸 夏银 骆晨  (74)专利代理机构 北京高沃律师事务所 11569 代理人 赵晓琳 (51)Int.Cl. B81C 1/00 (2006.01) 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 (54)发明名称 一种二维材料电子器件及其制备方法和应 用 (57)摘要 本发明涉及电子器件技术领域,特别涉及一 种二维材料电子器件及其制备方法和应用。本发 明提供的制备方法,包括以下步骤:在绝缘衬底 的表面从下到上依次制备二维材料层、刻蚀阻挡 层和石墨烯层,得到第一中间产物;所述刻蚀阻 挡层的面积分别小于二维材料层和石墨烯层的 面积且所述石墨烯层完全包覆所述刻蚀阻挡层; 以二维材料层、刻蚀阻挡层和石墨烯层的重叠区 域为起点,在第一中间产物的上表面进行图形化 后,根据得到的图形制备金属电极,得到第二中 间产物;以金属电极为掩膜版,对第二中间产物 A 中的二维材料层和石墨烯层进行刻蚀,得到二维 8 材料电子器件。本发明通过设置刻蚀阻挡层,保 7 8 7 护二维材料层不受刻蚀的影响,从而保证电子器 5 3 2 件的电学性能。 1 1 N C CN 112357878 A 权 利 要 求 书

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