发明

检测错误位的存储器装置及其方法

2023-05-16 10:56:49 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202210014163.X
  • 公开(公告)日:2025-06-03
  • 公开(公告)号:CN114765050A
  • 申请人:华邦电子股份有限公司
摘要:本发明提供一种检测错误位的存储器装置及其方法,存储器装置包含校正子生成电路和多个锁存电路。校正子生成电路包含多个输入端子和多个逻辑电路。锁存电路耦合到校正子生成电路且配置成根据预充电复位信号将校正子生成电路的输入端子设置为预定逻辑状态。锁存电路配置成在将校正子生成电路的输入端子设置为预定逻辑状态之后,将多个数据位提供到校正子生成电路的输入端子。校正子生成电路配置成通过逻辑电路基于数据位生成校正子位,其中校正子位指示数据位当中是否存在错误位。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114765050 A (43)申请公布日 2022.07.19 (21)申请号 202210014163.X (22)申请日 2022.01.06 (30)优先权数据 17/148,535 2021.01.13 US (71)申请人 华邦电子股份有限公司 地址 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号 (72)发明人 尹敏浩  (74)专利代理机构 北京同立钧成知识产权代理 有限公司 11205 专利代理师 宋兴 刘芳 (51)Int.Cl. G11C 29/08 (2006.01) G11C 29/42 (2006.01) 权利要求书3页 说明书7页 附图8页 (54)发明名称 检测错误位的存储器装置及其方法 (57)摘要 本发明提供一种检测错误位的存储器装置 及其方法,存储器装置包含校正子生成电路和多 个锁存电路。校正子生成电路包含多个输入端子 和多个逻辑电路。锁存电路耦合到校正子生成电 路且配置成根据预充电复位信号将校正子生成 电路的输入端子设置为预定逻辑状态。锁存电路 配置成在将校正子生成电路的输入端子设置为 预定逻辑状态之后,将多个数据位提供到校正子 生成电路的输入端子。校正子生成电路配置成通 过逻辑电路基于数据位生成校正子位,其中校正 子位指示数据位当中是否存在错误位。 A 0 5 0 5 6 7 4 1 1 N C CN 114765050 A 权 利 要 求