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发明

一种基于超构表面的三维显微成像方法和装置2025

2024-02-15 07:16:15 发布于四川 1
  • 申请专利号：CN202311618124.1
  • 公开（公告）日：2025-06-06
  • 公开（公告）号：CN117518448A
  • 申请人：哈尔滨工业大学
摘要：本发明公开了一种基于超构表面的三维显微成像方法，包括以下步骤：制作具有双螺旋点扩散函数特性的超构表面；以所述超构表面为核心搭建进行双螺旋点扩散函数调制的三维显微成像装置，获得双螺旋图像；以所述双螺旋图像中双螺旋光斑的中点确定待测样本的横向位置，两光斑中心连线的夹角确定待测样本的轴向位置。本发明还公开了一种基于超构表面的透射式三维显微成像装置和一种基于超构表面的反射式三维显微成像装置，且均包括照明模块、样品载物台、成像模块以及采集模块，而且成像模块均设有超构表面。本发明使用该超构表面替代传统的光场调控元件，提高成像效果。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域，且可用于该领域中三维显微成像。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117518448 A (43)申请公布日 2024.02.06 (21)申请号 202311618124.1 G02B 21/26 (2006.01) G02B 21/00 (2006.01) (22)申请日 2023.11.30 G02B 30/00 (2020.01) (71)申请人 哈尔滨工业大学 G02B 27/00 (2006.01) 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西 G01N 21/64 (2006.01) 大直街92号 (72)发明人 丁旭旻　张天舒　郝慧捷　王新伟　 刘俭　 (74)专利代理机构 哈尔滨奥博专利代理事务所 (普通合伙) 23220 专利代理师 姜进成 (51)Int.Cl. G02B 21/36 (2006.01) G02B 1/00 (2006.01) G02B 3/00 (2006.01) G02B 21/06 (2006.01) 权利要求书3页

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