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发明

一种电子元器件外观测试装置

2023-05-28 12:44:15 发布于四川 1
  • 申请专利号：CN202011087818.3
  • 公开（公告）日：2024-10-08
  • 公开（公告）号：CN112295948A
  • 申请人：江阴亨德拉科技有限公司
摘要：本发明公开了一种电子元器件外观测试装置，包括底板，所述底板上设置有自前至后依次布置的外观检测机构、涡流检测机构和分料机构，所述外观检测机构和涡流检测机构的上方设置有抓料机构，所述抓料机构用以将产品抓送至外观检测机构中进行外观检测，并将外观检测之后的产品抓送至涡流检测机构中进行性能检测，所述分料机构用以将性能检测之后的产品进行分类收集。本发明一种电子元器件外观测试装置具有减小外观测试误差、提高工作效率、降低人工成本的优点。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112295948 A (43)申请公布日 2021.02.02 (21)申请号 202011087818.3 G01N 21/84 (2006.01) G01N 27/9093 (2021.01) (22)申请日 2020.10.12 (71)申请人 江阴亨德拉科技有限公司 地址 214400 江苏省无锡市江阴市高新区 澄山路609号 (72)发明人 陈伟　徐勇　叶建国　韩宙　 (74)专利代理机构 江阴市轻舟专利代理事务所 (普通合伙) 32380 代理人 曹键 (51)Int.Cl. B07C 5/34 (2006.01) B07C 5/342 (2006.01) B07C 5/02 (2006.01) B07C 5/36 (2006.01) G01D 21/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书5页 附图7页 (54)发明名称 一种电子元器件外观测试装置 (57)摘要 本发明公开了一种电子元器件外观测试装 置，包括底板，所述底板上设置有自前至后依次 布置的外观检测机构、涡流检测机构和分料机 构，所述外观检测机构和涡流检测机构的上方设 置有抓料机构，所述抓料机构用以将产品抓送至 外观检测机构中进行外观检测，并将外观检测之

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