一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114300032 A (43)申请公布日 2022.04.08 (21)申请号 202111626136.X (22)申请日 2021.12.28 (71)申请人 深圳大普微电子科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区腾飞路9 号创投大厦3501室 (72)发明人 曹学明　杨颖　 (74)专利代理机构 深圳市六加知识产权代理有 限公司 44372 代理人 江晓苏 (51)Int.Cl. G11C 29/12 (2006.01) G06F 11/30 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图4页 (54)发明名称 一种检查存储介质失效的方法、装置和固态 硬盘 (57)摘要 本发明涉及数据存储领域，主要提供一种检 查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘，应用 于固态硬盘。通过获取闪存介质的操作数据，并 根据操作数据获取存储介质的错误计数信息，然 后根据错误计数信息检测是否触发对存储介质 的失效诊断，当确定对存储介质进行失效诊断 时，从存储介质的若干闪存块中获取已经执行写 操作的闪存块，并对已经执行了写操作的闪存块 执行读操作，最后根据读操作的结果检查存储介 质是否失效。本发明通过对已经执行过了写操作 的闪存块进行诊断，实现了在不影响固态硬盘性 A 能的条件下，对闪存介质中的存储介质进行失效 2 诊断，从而避免了因检查存储介质失效不及时而 3 0 0 导致的固态硬盘数据丢失和出