基于行列扫描的ILV故障测试电路及测试方法2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117727357 A (43)申请公布日 2024.03.19 (21)申请号 202311742019.9 (22)申请日 2023.12.18 (71)申请人 黑龙江大学 地址 150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学 府路74号 (72)发明人 方旭　 (74)专利代理机构 哈尔滨市松花江联合专利商 标代理有限公司 23213 专利代理师 张利明 (51)Int.Cl. G11C 29/54 (2006.01) G11C 29/10 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图4页 (54)发明名称 基于行列扫描的ILV故障测试电路及测试方 法 (57)摘要 基于行列扫描的ILV故障测试电路及测试方 法，涉及集成电路测试与可测性设计领域。本发 明是为了解决现有针对ILVs的故障测试方法中 多数方法电路占用面积大，而电路占用面积小的 方法又无法对故障进行定位的问题。本发明输入 移位寄存器的测试信号输入端作为所述ILV故障 测试电路的测试信号输入端，输入移位寄存器的 测试信号输出端分别与菊花链一一对应，输入移 位寄存器的每个测试信号输出端均与其对应菊 花链的测试信号输入端相连；输出移位寄存器的 测试信号输出端作为ILV故障测试电路的测试信 A 号输出端，输出移位寄存器的测试信号输入端分 7 别与菊花链一一对应，输出移位寄存器的每个测 5 3 7 试信号输入端均与其对应菊花链的测试信号输 2