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一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法2025

2024-02-04 07:13:33 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202311085660.X
  • 公开(公告)日:2025-04-11
  • 公开(公告)号:CN117470847A
  • 申请人:哈尔滨工业大学
摘要:一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法,它涉及一种显微图像反射信息去耦合方法。本发明为了解决暗场共焦成像过程中,未被完全滤除的反射信号掺杂在散射信号中,导致获取图像亮度不均匀、背景噪声大,进而干扰亚表面缺陷观测的问题。本发明以明场图像作为先验,计算先验梯度模板,通过先验梯度模板提取出暗场散射信号,并滤除反射信息噪声。本发明属于图像处理技术领域。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117470847 A (43)申请公布日 2024.01.30 (21)申请号 202311085660.X (22)申请日 2023.08.28 (71)申请人 哈尔滨工业大学 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西 大直街92号 (72)发明人 刘辰光 刘俭 由小玉  (74)专利代理机构 哈尔滨奥博专利代理事务所 (普通合伙) 23220 专利代理师 叶以方 (51)Int.Cl. G01N 21/88 (2006.01) G01N 21/95 (2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方 法 (57)摘要 一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方 法,它涉及一种显微图像反射信息去耦合方法。 本发明为了解决暗场共焦成像过程中,未被完全 滤除的反射信号掺杂在散射信号中,导致获取图 像亮度不均匀、背景噪声大,进而干扰亚表面缺 陷观测的问题。本发明以明场图像作为先验,计 算先验梯度模板,通过先验梯度模板提取出暗场 散射信号,并滤除反射信息噪声。本发明属于图 像处理技术领域。 A 7 4 8 0 7 4 7 1 1 N C CN 117470847 A 权 利 要 求 书 1/2页 1.一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法

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