用于确定字线与存储器孔短路的全位线感测

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114464232 A (43)申请公布日 2022.05.10 (21)申请号 202011237818.7 (22)申请日 2020.11.09 (71)申请人 西部数据技术公司 地址 美国加利福尼亚州 (72)发明人 李靓　刘晓华　蔚倩倩　 (74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 专利代理师 潘晓波 (51)Int.Cl. G11C 16/04 (2006.01) G11C 16/08 (2006.01) G11C 16/30 (2006.01) 权利要求书3页 说明书23页 附图34页 (54)发明名称 用于确定字线与存储器孔短路的全位线感 测 (57)摘要 本发明提供了用于检测存储器设备中的短 路并且具体地检测字线与沟道短路以及在NAND 串顶部处的位线触点之间的短路的装置和技术。 短路检测操作包括沟道预清洁阶段，该沟道预清 洁阶段对非短路NAND串的沟道放电，同时使短路 NAND串的位线升压，之后是位线预充电阶段，该 位线预充电阶段使非短路NAND串的位线升压，之 后是位线放电阶段，该位线放电阶段使非短路 NAND串的位线放电，之后是感测阶段，该感测阶 段将短路NAND串识别为处于编程状态或非导电 状态。 A 2 3 2 4 6 4 4 1 1 N C CN 114464232 A 权　利　要　求　书